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用于質量控制的庫侖法鍍層厚度測量儀

用于質量控制的庫侖法鍍層厚度測量儀
庫侖法的成本效益高，可準確地替代X射線熒光法-前提是你可以接受一種破壞性的測量方法。它為您提供了很大的靈活性，因為它可以用于廣泛的鍍層組合。您可以使用庫侖法測量鍍層厚度，特別是在電鍍鍍層的質量控制中，以及用于監測印刷電路板上的殘余純錫厚度。

  • 產品型號：COULOSCOPE CMS2 STEP
  • 廠商性質：代理商
  • 更新時間：2025-05-27
  • 訪  問  量：3389
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產品詳情
在鍍層厚度測量領域，當 X 射線熒光無損測量在一定厚度以上達到時，COULOSCOPE®CMS2 便展現出其價值。它運用庫侖法，能對多種金屬鍍層的厚度進行測量，這種方法本質上是一種較為簡單的退鍍處理。COULOSCOPE CMS2 可精準測定眾多常見的單層和多層鍍層，在質量控制環節發揮著關鍵作用。
庫侖法具備顯著的成本效益優勢，在可接受破壞性測量的前提下，是 X 射線熒光法的精準替代方案。該方法適用范圍廣泛，可應對豐富多樣的鍍層組合，常用于電鍍鍍層的質量把控，以及監測印刷電路板上殘余純錫的厚度。
STEP 測試：鍍層厚度與電化學電位的雙重測量
若需在測量鍍層厚度的同時獲取電化學電勢數據，COULOSCOPE CMS2 STEP 。其采用的 STEP 測試方法，能夠同步測量多層鎳鍍層的電位差與鍍層厚度，這一特性使其成為測定此類鍍層腐蝕行為的理想工具。
產品特性

  1. 高精度測量：運用庫侖法，實現多層金屬鍍層厚度的高精度測量。

  1. 標準合規：依據 DIN EN ISO 2177 標準開展測量工作。

  1. 操作便捷：通過彩色顯示屏與圖形化用戶指南，操作直觀易懂。

  1. 參數可調：可靈活選擇電解速度（0.1 - 50 微米 / 分鐘）和電解面積（0.6 - 3.2mm）。

  1. 預設應用豐富：針對不同鍍層系統，如鐵上鍍鋅、黃銅上鍍鎳等，預設近 100 種測量應用。

  1. 數據可視化：測量單元上實時顯示電壓曲線圖形。

  1. 評估全面：支持圖形化與統計化評估。

  1. 自動化適配：帶支撐架的部分自動化測量，適配各類樣品尺寸。

  1. 配件齊全：配備全面的配件組合，滿足特定需求。

COULOSCOPE CMS2 STEP 附加功能

  1. 同步測量：可同時測量鍍層厚度和電位差。

  1. 標準測試：依據 ASTM B764 - 04 和 DIN EN 16866 標準進行電位差測試。

  1. 電極處理：具備銀參比電極測量前的準備功能（生成必要的 AgCl 層）。

  1. 電流調節：電解電流可按需調整。

  1. 即時評估：能直接在測厚儀顯示器上對電位曲線進行評估。

應用領域

  1. 生產與檢驗：適用于電鍍生產過程監控及成品進廠檢驗。

  1. 鍍層厚度測量：可精準測量多種金屬鍍層厚度，范圍在 0.05–50µm（因材料而異）。

  1. 鍍層體系覆蓋

  • 多鍍層體系：例如鐵或塑料基體（ABS）上的鍍鉻 / 鎳 / 銅等多層鍍層。

  • 雙鍍層體系：如銀或銅表面的鍍錫或鍍鎳。

  • 單鍍層：像鐵上鍍鋅等。

COULOSCOPE CMS2 STEP 額外應用
專為銅、鐵、鋁或塑料襯底（ABS）上的多層鎳層系統設計的 STEP 測試，進一步拓展了其應用邊界 。


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